接觸式和非接觸式粗糙度儀測(cè)值的差別

接觸式和非接觸式粗糙度儀的測(cè)值差別主要取決于被測(cè)物表面的光潔度和形貌特征。

一、接觸式粗糙度儀和非接觸式粗糙度儀的原理介紹

接觸式粗糙度儀需要通過(guò)和被測(cè)物體直接接觸來(lái)檢測(cè)被測(cè)物體表面的粗糙度。儀器頭部有一個(gè)針尖或者球頭，測(cè)頭與被測(cè)物體表面接觸后，將被測(cè)物體表面的高低起伏轉(zhuǎn)化成電信號(hào)輸出，然后經(jīng)過(guò)放大和計(jì)算，得出被測(cè)物體表面的粗糙度值。

非接觸式粗糙度儀則不需要直接接觸被測(cè)物體表面，通常使用激光或光學(xué)探頭掃描被測(cè)物體表面，然后測(cè)量反射的光線，從而確定被測(cè)物體表面的高低起伏并輸出粗糙度數(shù)據(jù)。

二、接觸式和非接觸式粗糙度儀的測(cè)值差別原因

雖然接觸式和非接觸式粗糙度儀可以實(shí)現(xiàn)相似的測(cè)量結(jié)果，但它們?cè)跍y(cè)量結(jié)果上仍有一定的差別。主要取決于以下兩點(diǎn)：

被測(cè)物表面的光潔度

接觸式粗糙度儀需要和被測(cè)物體表面直接接觸，所以對(duì)于表面光潔度較低的物體，粗糙度值偏低的可能性較高。非接觸式粗糙度儀則可以克服這一限制，但對(duì)于高反射或高光潔度的表面，反射的光線可能會(huì)干擾激光或光學(xué)探頭的工作，導(dǎo)致非接觸式粗糙度儀的測(cè)值偏高。

被測(cè)物表面的形貌特征

接觸式粗糙度儀的針尖或球頭通常只能測(cè)量表面的主要特征，而無(wú)法獲取更微小的表面結(jié)構(gòu)信息。對(duì)于被測(cè)物表面存在微小顆粒或細(xì)小紋路等細(xì)微特征的物體而言，非接觸式粗糙度儀通常更為準(zhǔn)確。

綜上所述，接觸式和非接觸式粗糙度儀的測(cè)值差別主要與被測(cè)物表面的光潔度和形貌特征有關(guān)。在具體應(yīng)用時(shí)，應(yīng)根據(jù)被測(cè)物體的特征和應(yīng)用需求進(jìn)行選擇。